波长色散型X荧光光谱仪（WDXRF）-马尔文帕纳科

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x射線熒光光譜儀

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2830 ZT馬爾文帕納科晶圓分析儀

馬爾文帕納科(ke)晶(jing)(jing)圓分析儀2830 ZT提供了用(yong)于(yu)測(ce)量薄膜厚度和成(cheng)分的功能。 2830 ZT 專(zhuan)門針對半導體和數據存儲行業而設計，該儀器(qi)可為多(duo)種晶(jing)(jing)片(pian)（厚達 300 mm）測(ce)定層結構、厚度、摻雜度和表(biao)面均勻性。

更新日期：2023-04-19

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